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文献
J-GLOBAL ID：200902186310077362
整理番号：98A0373271
電気機械的デバイスとその表面科学 電気接点の高解像力表面プロファイル測定システム
Electromechanical Devices and their Surface Science. A High-Resolution Measurement System for Surface Profile of Electric Contact.
EBARA Y
(Tohoku Univ., Sendai-shi, JPN)
,
SONE H
(Tohoku Univ., Sendai-shi, JPN)
,
NEMOTO Y
(Tohoku Univ., Sendai-shi, JPN)
,
TAKAGI T
(Nihon Univ., Koriyama-shi, JPN)
資料名：
IEICE Transactions on Electronics (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers)
(IEICE Transactions on Electronics (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： E81-C 号： 3 ページ： 432-434 発行年： 1998年03月
JST資料番号： L1370A ISSN： 0916-8524 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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