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文献
J-GLOBAL ID：200902186352888409
整理番号：96A0558100
走査電子顕微鏡法の進歩
Advances in Scanning Electron Microscopy.
Fortschritte in der Rasterelektronenmikroskopie.
POHL D
(Fachhochsch. Aalen)
,
JAKSCH H
(LEO Elektronenmikroskopie GmbH, Oberkochen)
資料名：
Praktische Metallographie
(Praktische Metallographie)
巻： 33 号： 5 ページ： 235-246 発行年： 1996年05月
JST資料番号： B0731A ISSN： 0032-678X CODEN： PMTLA 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説 発行国： ドイツ (DEU) 言語： 英語 (EN)
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