文献
J-GLOBAL ID:200902186442985896
整理番号:93A0619574
Rayleighダウンタイムとガンマ故障時間分布をもつ待機システムの解析
Analysis of a standby system with Rayleigh down time and gamma failure time distributions.
著者 (2件):
GUPTA R
(Meerut Univ., Meerut, IND)
,
CHAUDHARY A
(Meerut Univ., Meerut, IND)
資料名:
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻:
33
号:
6
ページ:
793-796
発行年:
1993年05月
JST資料番号:
C0530A
ISSN:
0026-2714
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)