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文献
J-GLOBAL ID：200902186481192429
整理番号：02A0772760
効率JohanssonスペクトロメータおよびアンジュレータX線源を用いた波長分散全反射蛍光X線分析 10-16g濃度の痕跡金属の検出
Wavelength-Dispersive Total-Reflection X-ray Fluorescence with an Efficient Johansson Spectrometer and an Undulator X-ray Source: Detection of 10-16 g-Level Trace Metals.
SAKURAI K
(National Inst. Materials Sci., Ibaraki, JPN)
,
EBA H
(National Inst. Materials Sci., Ibaraki, JPN)
,
INOUE K
(JASRI, Hyogo, JPN)
,
YAGI N
(JASRI, Hyogo, JPN)
資料名：
Analytical Chemistry
(Analytical Chemistry)
巻： 74 号： 17 ページ： 4532-4535 発行年： 2002年09月01日
JST資料番号： A0395A ISSN： 0003-2700 CODEN： ANCHAM 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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