文献
J-GLOBAL ID:200902186560494457
整理番号:00A0083262
フラーレン誘導体電子ビームレジストの照射機構
Exposure mechanism of fullerene derivative electron beam resists.
著者 (7件):
ROBINSON A P G
(Univ. Birmingham, Birmingham, GBR)
,
PALMER R E
(Univ. Birmingham, Birmingham, GBR)
,
TADA T
(National Inst. Advanced Interdisciplinary Res., Ibaraki, JPN)
,
KANAYAMA T
(National Inst. Advanced Interdisciplinary Res., Ibaraki, JPN)
,
SHELLEY E J
(Univ. Birmingham, Birmingham, GBR)
,
PHILP D
(Univ. Birmingham, Birmingham, GBR)
,
PREECE J A
(Univ. Birmingham, Birmingham, GBR)
資料名:
Chemical Physics Letters
(Chemical Physics Letters)
巻:
312
号:
5/6
ページ:
469-474
発行年:
1999年10月29日
JST資料番号:
B0824A
ISSN:
0009-2614
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)