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文献
J-GLOBAL ID：200902186572787352
整理番号：93A0708451
Electron channelling contrast imaging of interfacial defects in strained silicon-germanium layers on silicon.
WILKINSON A J
(Univ. Oxford, Oxford, GBR)
,
ANSTIS G R
(Univ. Technology, Sydney, AUS)
,
CZERNUSZKA J T
(Univ. Oxford, Oxford, GBR)
,
LONG N J
(Univ. Oxford, Oxford, GBR)
,
HIRSCH P B
(Univ. Oxford, Oxford, GBR)
資料名：
Philosophical Magazine. A. Physics of Condensed Matter: Structure, Defects and Mechanical Properties
(Philosophical Magazine. A. Physics of Condensed Matter: Structure, Defects and Mechanical Properties)
巻： 68 号： 1 ページ： 59-80 発行年： 1993年07月
JST資料番号： E0753B ISSN： 0141-8610 CODEN： PMAADG 資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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