文献
J-GLOBAL ID:200902186609501810
整理番号:95A0950829
SrTiO3およびBaxSr(1-x)TiO3薄膜の抵抗劣化の解析
Analysis of the Resistance Degradation of SrTiO3 and BaxSr(1-x)TiO3 Thin Films.
著者 (4件):
NUMATA K
(Texas Instruments Japan Ltd., Ibaraki, JPN)
,
FUKUDA Y
(Texas Instruments Japan Ltd., Ibaraki, JPN)
,
AOKI K
(Texas Instruments Japan Ltd., Ibaraki, JPN)
,
NISHIMURA A
(Texas Instruments Japan Ltd., Ibaraki, JPN)
資料名:
Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers
(Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻:
34
号:
9B
ページ:
5245-5249
発行年:
1995年09月
JST資料番号:
G0520B
ISSN:
0021-4922
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)