文献
J-GLOBAL ID:200902186611311468
整理番号:94A0149934
Fluctuation-slow-interface-traps.
著者 (1件):
FOUKS B I
(Inst. Radioengineering and Electronics, Moscow, SUN)
資料名:
Defect and Diffusion Forum
(Defect and Diffusion Forum)
巻:
103/105
ページ:
595-602
発行年:
1993年
JST資料番号:
D0958B
ISSN:
1012-0386
資料種別:
逐次刊行物 (A)
発行国:
スイス (CHE)
言語:
英語 (EN)