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文献
J-GLOBAL ID：200902186977983825
整理番号：02A0109016
走査型トンネル顕微鏡観察によって研究したSi(111)6×6-Au表面の部分的不規則性
Partial Disorder of the Si(111)6 × 6-Au Surface Studied by Scanning Tunneling Microscopy.
HIGASHIYAMA K
(Univ. Tsukuba, Ibaraki, JPN)
,
EGAMI A
(Univ. Tsukuba, Ibaraki, JPN)
,
HOSOI S
(Univ. Tsukuba, Ibaraki, JPN)
,
SUZUKI K
(Univ. Tsukuba, Ibaraki, JPN)
資料名：
Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers
(Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻： 40 号： 12 ページ： 6985-6992 発行年： 2001年12月15日
JST資料番号： G0520B ISSN： 0021-4922 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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