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文献
J-GLOBAL ID：200902187403628098
整理番号：96A0368914
W/Si多層膜の二重湾曲モノクロメータを用いた点集光小角X線散乱カメラ
A point-focusing small angle x-ray scattering camera using a doubly curved monochromator of a W/Si multilayer.
SASANUMA Y
(National Inst. Materials and Chemical Res.(NIMC), Ibaraki, JPN)
,
LAW R V
(National Inst. Materials and Chemical Res.(NIMC), Ibaraki, JPN)
,
KOBAYASHI Y
(Rigaku Corp., Tokyo, JPN)
資料名：
Review of Scientific Instruments
(Review of Scientific Instruments)
巻： 67 号： 3 Pt 1 ページ： 688-692 発行年： 1996年03月
JST資料番号： D0517A ISSN： 0034-6748 CODEN： RSINAK 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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