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文献
J-GLOBAL ID:200902187588350759   整理番号:02A0936557

高圧下におけるGeS2ガラスに関するその場法EXAFS研究

In situ EXAFS study on GeS2 glass under high-pressure.
著者 (8件):
MIYAUCHI K
(Kobe Univ., Kobe, JPN)
QIU J
(Japan Advanced Inst. Sci. and Technol., Ishikawa, JPN)
SHOJIYA M
(Kobe Univ., Kobe, JPN)
KAWAMOTO Y
(Kobe Univ., Kobe, JPN)
KITAMURA N
(National Inst. Advanced Material Sci. and Technol., Osaka, JPN)
FUKUMI K
(National Inst. Advanced Material Sci. and Technol., Osaka, JPN)
KATAYAMA Y
(Japan Atomic Energy Res. Inst., Hyogo, JPN)
NISHIHATA Y
(Japan Atomic Energy Res. Inst., Hyogo, JPN)

資料名:
Solid State Communications  (Solid State Communications)

巻: 124  号: 5/6  ページ: 189-193  発行年: 2002年10月 
JST資料番号: H0499A  ISSN: 0038-1098  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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