文献
J-GLOBAL ID:200902187588350759
整理番号:02A0936557
高圧下におけるGeS2ガラスに関するその場法EXAFS研究
In situ EXAFS study on GeS2 glass under high-pressure.
著者 (8件):
MIYAUCHI K
(Kobe Univ., Kobe, JPN)
,
QIU J
(Japan Advanced Inst. Sci. and Technol., Ishikawa, JPN)
,
SHOJIYA M
(Kobe Univ., Kobe, JPN)
,
KAWAMOTO Y
(Kobe Univ., Kobe, JPN)
,
KITAMURA N
(National Inst. Advanced Material Sci. and Technol., Osaka, JPN)
,
FUKUMI K
(National Inst. Advanced Material Sci. and Technol., Osaka, JPN)
,
KATAYAMA Y
(Japan Atomic Energy Res. Inst., Hyogo, JPN)
,
NISHIHATA Y
(Japan Atomic Energy Res. Inst., Hyogo, JPN)
資料名:
Solid State Communications
(Solid State Communications)
巻:
124
号:
5/6
ページ:
189-193
発行年:
2002年10月
JST資料番号:
H0499A
ISSN:
0038-1098
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)