文献
J-GLOBAL ID:200902187608418479
整理番号:01A1009116
Ni内部電極の積層セラミックコンデンサにおけるBT基材料のdc電気劣化 インピーダンス解析と微構造
dc-Electrical Degradation of the BT-Based Material for Multilayer Ceramic Capacitor with Ni internal Electrode: Impedance Analysis and Microstructure.
著者 (2件):
CHAZONO H
(Taiyo Yuden Co., Ltd., Gunma, JPN)
,
KISHI H
(Taiyo Yuden Co., Ltd., Gunma, JPN)
資料名:
Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers
(Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻:
40
号:
9B
ページ:
5624-5629
発行年:
2001年09月30日
JST資料番号:
G0520B
ISSN:
0021-4922
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)