文献
J-GLOBAL ID:200902187619499675
整理番号:98A0220260
高電圧エレクトロニクスにおける中性子誘起シングルイベントバーンアウト
Neutron-Induced Single Event Burnout in High Voltage Electronics.
著者 (6件):
NORMAND E
(Boeing Defense & Space Group, WA)
,
WERT J L
(Boeing Defense & Space Group, WA)
,
OBERG D L
(Boeing Defense & Space Group, WA)
,
MAJEWSKI P P
(Boeing Defense & Space Group, WA)
,
VOSS P
(eupec, Pretzfeld, DEU)
,
WENDER S A
(Los Alamos National Lab., NM)
資料名:
IEEE Transactions on Nuclear Science
(IEEE Transactions on Nuclear Science)
巻:
44
号:
6, Pt.1
ページ:
2358-2366
発行年:
1997年12月
JST資料番号:
C0235A
ISSN:
0018-9499
CODEN:
IETNAE
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)