文献
J-GLOBAL ID:200902187873838374
整理番号:98A0085656
有限インピーダンス基準平面による電磁干渉の定量化
Quantifying EMI Resulting from Finite-Impedance Reference Planes.
著者 (7件):
HOCKANSON D M
(Univ. Missouri, MO, USA)
,
DREWNIAK J L
(Univ. Missouri, MO, USA)
,
HUBING T H
(Univ. Missouri, MO, USA)
,
VAN DOREN T P
(Univ. Missouri, MO, USA)
,
SHA F
(Northern Jaotong Univ., Beijing, CHN)
,
LAM C-W
(Viewlogic System, Inc., CA, USA)
,
RUBIN L
(Viewlogic System, Inc., CA, USA)
資料名:
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility
(IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility)
巻:
39
号:
4
ページ:
286-297
発行年:
1997年11月
JST資料番号:
H0383A
ISSN:
0018-9375
CODEN:
IEMCAE
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)