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文献
J-GLOBAL ID：200902188087266177
整理番号：99A0376507
疲れ寿命を最大化するためのプリント配線基板(PWB)レイアウトの遺伝的アルゴリズムによる研究
An Investigation of PWB Layout by Genetic Algorithms to Maximize Fatigue Life.
SCHOLAND A J
(Georgia Inst. Technol., GA)
,
FULTON R E
(Georgia Inst. Technol., GA)
,
BRAS B
(Georgia Inst. Technol., GA)
資料名：
Journal of Electronic Packaging
(Journal of Electronic Packaging)
巻： 121 号： 1 ページ： 31-36 発行年： 1999年03月
JST資料番号： T0929A ISSN： 1043-7398 CODEN： JEPAE4 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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