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文献
J-GLOBAL ID：200902188194942843
整理番号：01A0053520
局在電子のX線誘起光電子放出とそのサイト選択X線吸収微細構造測定への応用
X-ray induced photoemission of a localized electron and its application to site-selective x-ray absorption fine structure measurement.
ISHII M
(Japan Synchrotron Radiation Res. Inst.(JASRI), Hyogo, JPN)
,
YOSHINO Y
(Okayama Univ. Sci., Okayama, JPN)
,
TAKARABE K
(Okayama Univ. Sci., Okayama, JPN)
,
SHIMOMURA O
(Japan Atomic Energy Res. Inst.(JAERI), Hyogo, JPN)
資料名：
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻： 88 号： 7 ページ： 3962-3967 発行年： 2000年10月01日
JST資料番号： C0266A ISSN： 0021-8979 CODEN： JAPIAU 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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