文献
J-GLOBAL ID:200902189170064264
整理番号:93A0709765
Impurity related interface effects in GSMBE grown InP.
著者 (6件):
RAKENNUS K
(Tampere Univ. Technology, Tampere, FIN)
,
LIKONEN J
(Helsinki Univ. Technology, Espoo, FIN)
,
NAEPPI J
(Tampere Univ. Technology, Tampere, FIN)
,
TAPPURA K
(Tampere Univ. Technology, Tampere, FIN)
,
ASONEN H
(Tampere Univ. Technology, Tampere, FIN)
,
PESSA M
(Tampere Univ. Technology, Tampere, FIN)
資料名:
5th International Conference on Indium Phosphide and Related Materials
(5th International Conference on Indium Phosphide and Related Materials)
ページ:
107-110
発行年:
1993年
JST資料番号:
K19930399
ISBN:
0-7803-0994-4
資料種別:
会議録 (C)
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)