文献
J-GLOBAL ID:200902189542197762
整理番号:97A0850939
193nmリソグラフィーのための化学的増幅型レジストの酸性増幅
Acid amplification of chemically amplified resists for 193nm lithography.
著者 (7件):
OHFUJI T
(ASET, Kanagawa, JPN)
,
TAKAHASHI M
(ASET, Kanagawa, JPN)
,
KUHARA K
(ASET, Kanagawa, JPN)
,
OGAWA T
(ASET, Kanagawa, JPN)
,
OHTSUKA H
(ASET, Kanagawa, JPN)
,
SASAGO M
(ASET, Kanagawa, JPN)
,
ICHIMURA K
(Tokyo Inst. Technol., Kanagawa, JPN)
資料名:
Proceedings of SPIE
(Proceedings of SPIE)
巻:
3049
ページ:
76-82
発行年:
1997年
JST資料番号:
D0943A
ISSN:
0277-786X
CODEN:
PSISDG
資料種別:
会議録 (C)
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)