文献
J-GLOBAL ID:200902189597734520
整理番号:02A0200623
ソフトブレークダウンとハードブレークダウン統計,優位性比率およびブレークダウン暴走中のエネルギー消費の理解
Understanding Soft and Hard breakdown statistics, prevalence ratios and energy dissipation during breakdown runaway.
著者 (5件):
SUNE J
(Univ. Autonoma de Barcelona, Bellaterra, ESP)
,
WU E Y
(IBM Microelectronics Div., VT, USA)
,
JIMENEZ D
(Univ. Autonoma de Barcelona, Bellaterra, ESP)
,
VOLLERTSEN R P
(Infineon Technol., VT, USA)
,
MIRANDA E
(Univ. Buenos Aires, Buenos Aires, ARG)
資料名:
Technical Digest. International Electron Devices Meeting
(Technical Digest. International Electron Devices Meeting)
巻:
2001
ページ:
117-120
発行年:
2001年
JST資料番号:
C0829B
ISSN:
0163-1918
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)