文献
J-GLOBAL ID:200902190709318174
整理番号:93A0526131
Direct evidence for native point defects in MBE-grown AlAs/GaAs heterostructures.
著者 (4件):
KRISPIN P
(Paul-Drude-Inst. Festkoerperelektronik, Berlin, DEU)
,
HEY R
(Paul-Drude-Inst. Festkoerperelektronik, Berlin, DEU)
,
KOSTIAL H
(Paul-Drude-Inst. Festkoerperelektronik, Berlin, DEU)
,
HOERICKE M
(Paul-Drude-Inst. Festkoerperelektronik, Berlin, DEU)
資料名:
Journal of Crystal Growth
(Journal of Crystal Growth)
巻:
127
号:
1/4
ページ:
1073-1076
発行年:
1993年02月
JST資料番号:
B0942A
ISSN:
0022-0248
資料種別:
逐次刊行物 (A)
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)