文献
J-GLOBAL ID:200902190755728530
整理番号:01A0749914
歪んだSi/Si0.7Ge0.3ヘテロ構造の熱安定性
Thermal stability of the strained-Si/Si0.7Ge0.3 heterostructure.
著者 (1件):
SUGII N
(Hitachi Ltd., Tokyo, JPN)
資料名:
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻:
89
号:
11,Pt.1
ページ:
6459-6463
発行年:
2001年06月01日
JST資料番号:
C0266A
ISSN:
0021-8979
CODEN:
JAPIAU
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)