文献
J-GLOBAL ID:200902191159084991
整理番号:00A0596601
原子間力顕微鏡を用いた局所増強Raman分光
Locally enhanced Raman spectroscopy with an atomic force microscope.
著者 (1件):
ANDERSON M S
(California Inst. Technol., California)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
76
号:
21
ページ:
3130-3132
発行年:
2000年05月22日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)