文献
J-GLOBAL ID:200902191466158161
整理番号:96A0324033
先端材料のための高角度暗視野STEM
High Angle Dark Field STEM for Advanced Materials.
著者 (4件):
PENNYCOOK S J
(Oak Ridge National Lab., Tennessee, USA)
,
JESSON D E
(Oak Ridge National Lab., Tennessee, USA)
,
MCGIBBON A J
(Univ. Glasgow, Glasgow, GBR)
,
NELLIST P D
(Oak Ridge National Lab., Tennessee, USA)
資料名:
Journal of Electron Microscopy
(Journal of Electron Microscopy)
巻:
45
号:
1
ページ:
36-43
発行年:
1996年02月
JST資料番号:
G0104A
ISSN:
0022-0744
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)