文献
J-GLOBAL ID:200902191526548932
整理番号:97A0642735
ソフトウェア開発中のストレスに起因する故障の解析
Analysis of Fault Generation Caused By Stress During Software Development.
著者 (3件):
FURUYAMA T
(Tokai Univ., Shizuoka, JPN)
,
ARAI Y
(NTT Software Corp., Kanagawa, JPN)
,
IIO K
(NTT Software Lab., Tokyo, JPN)
資料名:
Journal of Systems and Software
(Journal of Systems and Software)
巻:
38
号:
1
ページ:
13-25
発行年:
1997年07月
JST資料番号:
C0845B
ISSN:
0164-1212
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)