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文献
J-GLOBAL ID：200902191806267998
整理番号：96A0257325
低コヒーレンスの干渉法的反射計を用いる半導体導波管の測定
Measurements of a Semiconductor Waveguide Using a Low-Coherence Interferometric Reflectometer.
KASAYA K
(NTT Opto-Electronics Lab., Kanagawa, JPN)
,
YOSHIKUNI Y
(NTT Opto-Electronics Lab., Kanagawa, JPN)
,
ISHII H
(NTT Opto-Electronics Lab., Kanagawa, JPN)
資料名：
IEEE Photonics Technology Letters
(IEEE Photonics Technology Letters)
巻： 8 号： 2 ページ： 251-253 発行年： 1996年02月
JST資料番号： T0721A ISSN： 1041-1135 CODEN： IPTLEL 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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