文献
J-GLOBAL ID:200902191832141200
整理番号:02A0335344
波長走査干渉法による光学平行板の試験での多重ビーム干渉雑音の抑制
Suppression of Multiple-Beam Interference Noise in Testing an Optical-Parallel Plate by Wavelength-Scanning Interferometry.
著者 (2件):
HIBINO K
(National Inst., Industrial Sci. and Technol., Tukuba, JPN)
,
TAKATSUJI T
(National Inst., Industrial Sci. and Technol., Tukuba, JPN)
資料名:
Optical Review
(Optical Review)
巻:
9
号:
2
ページ:
60-65
発行年:
2002年03月
JST資料番号:
L2272A
ISSN:
1340-6000
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)