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文献
J-GLOBAL ID:200902192636996783   整理番号:02A0327499

くさび形Siフィルターを用いた放射光励起全反射蛍光X線分析における増感効果

Enhancement in the Sensitivity of Synchrotron Radiation Excited Total Reflection X-Ray Fluorescence Analysis using a Wedge-shaped Si Filter.
著者 (6件):
西勝英雄
(立命館大 SRセ)
早川慎二郎
(広島大 工)
白石晴樹
(立命館大 理工)
園部将実
(立命館大 理工)
杉山進
(立命館大 理工)
鳥山寿之
(立命館大 理工)

資料名:
X線分析の進歩  (X線工業分析)

巻: 33  ページ: 115-121  発行年: 2002年03月31日 
JST資料番号: Z0547B  ISSN: 0911-7806  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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