文献
J-GLOBAL ID:200902193221839379
整理番号:93A0900371
Ag薄膜の原子間力顕微鏡観察 形態と光学的性質の関係
Atomic force microscopy of thin Ag films. Relationship between morphology and optical properties.
著者 (2件):
ROARK S E
(Univ. Colorado, CO, USA)
,
ROWLEN K L
(Univ. Colorado, CO, USA)
資料名:
Chemical Physics Letters
(Chemical Physics Letters)
巻:
212
号:
1/2
ページ:
50-56
発行年:
1993年09月03日
JST資料番号:
B0824A
ISSN:
0009-2614
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)