文献
J-GLOBAL ID:200902193402861570
整理番号:02A0001696
IGBT電力半導体モジュールに対するパワーサイクルの信頼性
Reliability of Power Cycling for IGBT Power Semiconductor Modules.
著者 (4件):
MOROZUMI A
(Fuji Electric Co., Ltd., Nagano, JPN)
,
YAMADA K
(Fuji Electric Co., Ltd., Nagano, JPN)
,
MIYASAKA T
(Fuji Electric Co., Ltd., Nagano, JPN)
,
SEKI Y
(Fuji Electric Co., Ltd., Nagano, JPN)
資料名:
Conference Record of the IEEE Industry Applications Conference
(Conference Record of the IEEE Industry Applications Conference)
巻:
36th
号:
Vol.3
ページ:
1912-1918
発行年:
2001年
JST資料番号:
A0713B
ISSN:
0197-2618
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)