文献
J-GLOBAL ID:200902193705669133
整理番号:99A0017601
Wバンド・オンウェハ・ロードプル測定方式とそのHEMT特性決定への応用
W-band on-wafer load-pull measurement system and its application to HEMT characterization.
著者 (3件):
ALEKSEEV E
(Univ. Michigan, MI, USA)
,
PAVLIDIS D
(Univ. Michigan, MI, USA)
,
TSIRONIS C
(Focus Microwaves Inc., Quebec, CAN)
資料名:
IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest
(IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest)
巻:
1998
号:
Vol.3
ページ:
1479-1482
発行年:
1998年
JST資料番号:
A0636A
ISSN:
0149-645X
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)