文献
J-GLOBAL ID:200902194480627165
整理番号:99A0326748
InAs/GaAs量子ドットの走査型透過電子顕微鏡(STEM)研究
Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM) Study of InAs/GaAs Quantum Dots.
著者 (7件):
MURRAY R
(Imperial Coll., London, GBR)
,
MALIK S
(Imperial Coll., London, GBR)
,
SIVERNS P
(Imperial Coll., London, GBR)
,
CHILDS D
(Imperial Coll., London, GBR)
,
ROBERTS C
(Imperial Coll., London, GBR)
,
JOYCE B
(Imperial Coll., London, GBR)
,
DAVOCK H
(Univ. Liverpool, Liverpool, GBR)
資料名:
Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers
(Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻:
38
号:
1B
ページ:
496-499
発行年:
1999年01月30日
JST資料番号:
G0520B
ISSN:
0021-4922
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)