文献
J-GLOBAL ID:200902194759647034
整理番号:96A0470346
電気化学的に粗くした銀電極表面におけるセルフ-アフィンフラクタル粗さのタッピングモード原子間力顕微鏡観察
Tapping mode atomic force microscopy observation of self-affine fractal roughness in electrochemically roughened silver electrode surfaces.
著者 (2件):
OTSUKA I
(Ohu Univ., Koriyama, JPN)
,
IWASAKI T
(Ohu Univ., Koriyama, JPN)
資料名:
Journal of Vacuum Science & Technology. B. Microelectronics and Nanometer Structures
(Journal of Vacuum Science & Technology. B. Microelectronics and Nanometer Structures)
巻:
14
号:
2
ページ:
1153-1156
発行年:
1996年03月
JST資料番号:
E0974A
ISSN:
1071-1023
CODEN:
JVTBD9
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)