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文献
J-GLOBAL ID:200902195174750731   整理番号:00A0547268

走査プローブ酸化カイネティクスのための予言的模型

Predictive model for scanned probe oxidation kinetics.
著者 (7件):
DAGATA J A
(National Inst. Standards and Technol., Maryland)
PEREZ-MURANO F
(Univ. Autonoma de Barcelona, Barcelona, ESP)
ABADAL G
(Univ. Autonoma de Barcelona, Barcelona, ESP)
MORIMOTO K
(Matsushita Electrical Industrial Co., Ltd., Osaka, JPN)
INOUE T
(Electrotechnical Lab., Tsukuba, JPN)
ITOH J
(Electrotechnical Lab., Tsukuba, JPN)
YOKOYAMA H
(Electrotechnical Lab., Tsukuba, JPN)

資料名:
Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)

巻: 76  号: 19  ページ: 2710-2712  発行年: 2000年05月08日 
JST資料番号: H0613A  ISSN: 0003-6951  CODEN: APPLAB  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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