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文献
J-GLOBAL ID：200902195174750731
整理番号：00A0547268
走査プローブ酸化カイネティクスのための予言的模型
Predictive model for scanned probe oxidation kinetics.
DAGATA J A
(National Inst. Standards and Technol., Maryland)
,
PEREZ-MURANO F
(Univ. Autonoma de Barcelona, Barcelona, ESP)
,
ABADAL G
(Univ. Autonoma de Barcelona, Barcelona, ESP)
,
MORIMOTO K
(Matsushita Electrical Industrial Co., Ltd., Osaka, JPN)
,
INOUE T
(Electrotechnical Lab., Tsukuba, JPN)
,
ITOH J
(Electrotechnical Lab., Tsukuba, JPN)
,
YOKOYAMA H
(Electrotechnical Lab., Tsukuba, JPN)
資料名：
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻： 76 号： 19 ページ： 2710-2712 発行年： 2000年05月08日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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