文献
J-GLOBAL ID:200902195204166509
整理番号:94A0005078
ULSI technology. A complex device manufacturing process.
著者 (1件):
HILLENIUS S J
(AT & T Bell Lab., NJ, USA)
資料名:
Diffusion and Defect Data Part B. Solid State Phenomena
(Diffusion and Defect Data Part B. Solid State Phenomena)
巻:
32/33
ページ:
1-10
発行年:
1993年
JST資料番号:
T0583A
ISSN:
1012-0394
資料種別:
逐次刊行物 (A)
発行国:
スイス (CHE)
言語:
英語 (EN)