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文献
J-GLOBAL ID：200902195446047326
整理番号：94A0250793
ディジタルCMOS適用特定集積回路の単一事象アップセット試験構造
Single Event Upset Test Structures for Digital CMOS Application Specific Integrated Circuits.
BAZE M P
(Boeing Defense and Space Group, Wa.)
,
BARTHOLET W G
(Boeing Defense and Space Group, Wa.)
,
BRAATZ J C
(Boeing Defense and Space Group, Wa.)
,
DAO T A
(Boeing Defense and Space Group, Wa.)
資料名：
IEEE Transactions on Nuclear Science
(IEEE Transactions on Nuclear Science)
巻： 40 号： 6 Pt 1 ページ： 1703-1708 発行年： 1993年12月
JST資料番号： C0235A ISSN： 0018-9499 CODEN： IETNAE 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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