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文献
J-GLOBAL ID：200902195626410798
整理番号：95A0154935
光学的に厚い多層半導体構造のテラヘルツ分光法
Terahertz spectroscopy of optically thick multilayered semiconductor structures.
RALPH S E
(Emory Univ., Georgia)
,
PERKOWITZ S
(Emory Univ., Georgia)
,
KATZENELLENBOGEN N
(IBM T.J. Watson Research Center, New York)
,
GRISCHKOWSKY D
(IBM T.J. Watson Research Center, New York)
資料名：
Journal of the Optical Society of America. B. Optical Physics
(Journal of the Optical Society of America. B. Optical Physics)
巻： 11 号： 12 ページ： 2528-2532 発行年： 1994年12月
JST資料番号： C0977A ISSN： 0740-3224 CODEN： JOBPDE 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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