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文献
J-GLOBAL ID：200902195969433157
整理番号：99A0672753
アナログディジタル混載集積回路における雑音選択電圧コンパレータを用いた基板雑音測定
Substrate Noise Measurement by using Noise-selective Voltage Comparators in Analog and Digital Mixed-signal Integrated Circuits.
MAKIE-FUKUDA K
(Hitachi Ltd., Tokyo, JPN)
,
ANBO T
(Hitachi ULSI Engineering Corp., Tokyo, JPN)
,
TSUKADA T
(Hitachi Ltd., Tokyo, JPN)
資料名：
Conference Proceedings. IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference
(Conference Proceedings. IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference)
巻： 1998 号： Vol.2 ページ： 1377-1380 発行年： 1998年
JST資料番号： B0689B ISSN： 1091-5281 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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