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文献
J-GLOBAL ID：200902196045119126
整理番号：93A0653681
水素分子を含む電離プラズマの水素原子分光 線強度とイオン化率
Hydrogen-atom spectroscopy of the ionizing plasma containing molecular hydrogen: Line intensities and ionization rate.
SAWADA K
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
ERIGUCHI K
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
FUJIMOTO T
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
資料名：
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻： 73 号： 12 ページ： 8122-8125 発行年： 1993年06月15日
JST資料番号： C0266A ISSN： 0021-8979 CODEN： JAPIAU 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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