文献
J-GLOBAL ID:200902196365472860
整理番号:94A0387981
Defects in separation by implanted oxygen wafer probed by monoenergetic positron beams.
著者 (9件):
UEDONO A
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
,
WATAUCHI S
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
,
UJIHIRA Y
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
,
WEI L
(Univ. Tsukuba, Ibaraki, JPN)
,
SUZUKI R
(Electrotechnical Lab., Ibaraki, JPN)
,
MIKADO T
(Electrotechnical Lab., Ibaraki, JPN)
,
KAMETANI H
(Mitsubishi Electric Corp., Hyogo, JPN)
,
AKIYAMA H
(Mitsubishi Electric Corp., Hyogo, JPN)
,
KOUMARU M
(Mitsubishi Electric Corp., Hyogo, JPN)
資料名:
Hyperfine Interactions
(Hyperfine Interactions)
巻:
79
号:
1/4
ページ:
621-625
発行年:
1993年11月
JST資料番号:
H0639A
ISSN:
0304-3843
CODEN:
HYINDN
資料種別:
逐次刊行物 (A)
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)