文献
J-GLOBAL ID:200902196421825517
整理番号:94A0074720
Parameter Monitoring: Advantages and Pitfalls.
著者 (4件):
VAN ROSMALEN M M A
(Philips Research Lab., Eindhoven, NLD)
,
BAKER K
(Philips Research Lab., Eindhoven, NLD)
,
BRULS E M J G
(Philips Research Lab., Eindhoven, NLD)
,
JESS J A G
(Eindhoven Univ. Technology, Eindhoven, NLD)
資料名:
Proceedings. International Test Conference
(Proceedings. International Test Conference)
巻:
1993
ページ:
115-124
発行年:
1993年
JST資料番号:
E0211B
ISSN:
1089-3539
資料種別:
会議録 (C)
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)