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文献
J-GLOBAL ID：200902196489108724
整理番号：95A0908437
EMC/EMI-国際標準化技術における我が国の現状と課題 測定法の新たな展開 ステップ応答波形の解析による電気的特性の測定 折れ曲がり線路からの反射や放射の測定などへのTDRの活用
EMC/EMI: Current Status and Issues of International Standardization Technology in Japan. New Methodological Developments of Measurements. Measurement of the Electrical Properties by the Time-Domain Reflectometry.
馬場健造
(一関工高専)
資料名：
電子情報通信学会誌
(Journal of the Institute of Electronics, Information and Communication Engineers)
巻： 78 号： 9 ページ： 845-846 発行年： 1995年09月
JST資料番号： F0019A ISSN： 0913-5693 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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