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文献
J-GLOBAL ID：200902196651340083
整理番号：93A0745126
可試験性手法のための新設計 クロックライン制御設計
A new design for testability method: Clock line control design.
BAEG S
(Univ. Texas at Austin, Texas)
,
ROGERS W A
(Univ. Texas at Austin, Texas)
資料名：
Proceedings of the IEEE Custom Integrated Circuits Conference
(Proceedings of the IEEE Custom Integrated Circuits Conference)
巻： 1993 ページ： 26.2.1-26.2.4 発行年： 1993年
JST資料番号： H0843A ISSN： 0886-5930 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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