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J-GLOBAL ID：200902196675079173 整理番号：02A0488167

エリプソメトリー法を用いたミリ波帯誘電率推定方法の基礎検討

A fundamental study on measurement for dielectric constant of materials by ellipsometry method in millimeter-wave band.

著者 (3件)：

酒井泰二

(青山学院大理工)

続山浩二

(三井化学)

橋本修

(青山学院大理工)

資料名：

電子情報通信学会技術研究報告 (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))

巻： 102 号： 25(EMCJ2002 1-6) ページ： 1-6 発行年： 2002年04月19日
JST資料番号： S0532B ISSN： 0913-5685 資料種別：会議録 (C)
記事区分：原著論文発行国：日本 (JPN) 言語：日本語 (JA)

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