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文献
J-GLOBAL ID：200902196735050714
整理番号：01A0473207
TiO2薄膜の成長構造のAFMおよびTEMによる研究
Study of the growth morphology of TiO2 thin films by AFM and TEM.
LEPRINCE-WANG Y
(Univ. Marne la Vallee, Marne-la-Vallee, FRA)
,
YU-ZHANG K
(Univ. Marne la Vallee, Marne-la-Vallee, FRA)
資料名：
Surface & Coatings Technology
(Surface & Coatings Technology)
巻： 140 号： 2 ページ： 155-160 発行年： 2001年05月30日
JST資料番号： D0205C ISSN： 0257-8972 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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