文献
J-GLOBAL ID:200902196964621172
整理番号:94A0079218
Defect anisotropy in MOVPE CdTe/GaAs.
著者 (6件):
CHENG T T
(Univ. Birmingham, Edgbaston, GBR)
,
AINDOW M
(Univ. Birmingham, Edgbaston, GBR)
,
JONES I P
(Univ. Birmingham, Edgbaston, GBR)
,
HAILS J E
(Defence Research Agency, Malvern, GBR)
,
WILLIAMS D J
(Defence Research Agency, Malvern, GBR)
,
ASTLES M G
(Defence Research Agency, Malvern, GBR)
資料名:
Evolution of Surface and Thin Film Microstructure
(Evolution of Surface and Thin Film Microstructure)
ページ:
425-428
発行年:
1993年
JST資料番号:
K19930662
ISBN:
1-55899-175-1
資料種別:
会議録 (C)
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)