文献
J-GLOBAL ID:200902197331476862
整理番号:01A0793840
ナノ構造を観測するための三次元STEM
Three-dimensional STEM for observing nanostructures.
著者 (8件):
KOGUCHI M
(Hitachi Ltd., Tokyo, JPN)
,
KAKIBAYASHI H
(Hitachi Ltd., Tokyo, JPN)
,
TSUNETA R
(Hitachi Ltd., Tokyo, JPN)
,
YAMAOKA M
(Hitachi Ltd., Tokyo, JPN)
,
NIINO T
(Tokyo Univ., Tokyo, JPN)
,
TANAKA N
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
,
KASE K
(Inst. Physical and Chemical Res., Saitama, JPN)
,
IWAKI M
(Inst. Physical and Chemical Res., Saitama, JPN)
資料名:
Journal of Electron Microscopy
(Journal of Electron Microscopy)
巻:
50
号:
3
ページ:
235-241
発行年:
2001年
JST資料番号:
G0104A
ISSN:
0022-0744
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)