文献
J-GLOBAL ID:200902197445908320
整理番号:99A0717593
X線粉末分光回折用リートベルト解析プログラム
A Rietveld-analysis program for X-ray powder spectro-diffractometry.
著者 (8件):
XIAO Y
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
,
HAYAKAWA S
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
,
GOHSHI Y
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
,
OSHIMA M
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
,
IZUMI F
(National Inst. Res. Inorganic Materials, Ibaraki, JPN)
,
OKUDERA H
(Nagoya Inst. Technol., Tajimi, JPN)
,
TORAYA H
(Nagoya Inst. Technol., Tajimi, JPN)
,
OHSUMI K
(High Energy Accelerator Res. Organization, Tsukuba, JPN)
資料名:
Powder Diffraction
(Powder Diffraction)
巻:
14
号:
2
ページ:
106-110
発行年:
1999年06月
JST資料番号:
T0527A
ISSN:
0885-7156
CODEN:
PODIE2
資料種別:
逐次刊行物 (A)
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)