文献
J-GLOBAL ID:200902198230736096
整理番号:00A0136963
CSD PLZT薄膜のマイクロ構造進化とりーク現象
Microstructure Evolution and Leakage Phenomena of CSD PLZT Thin Films.
著者 (8件):
FUJIKI M
(Fujitsu Lab. Ltd., Atsugi, JPN)
,
CROSS J S
(Fujitsu Lab. Ltd., Atsugi, JPN)
,
TSUKADA M
(Fujitsu Lab. Ltd., Atsugi, JPN)
,
OTANI S
(Fujitsu Lab. Ltd., Atsugi, JPN)
,
KOTAKA Y
(Fujitsu Lab. Ltd., Atsugi, JPN)
,
GOTO Y
(Fujitsu Lab. Ltd., Atsugi, JPN)
,
MATSUURA K
(Fujitsu Ltd., Iwate, JPN)
,
ASHIDA H
(Fujitsu Ltd., Iwate, JPN)
資料名:
Integrated Ferroelectrics
(Integrated Ferroelectrics)
巻:
26
号:
1/4
ページ:
269-275
発行年:
1999年10月
JST資料番号:
W0539A
ISSN:
1058-4587
CODEN:
IFEREU
資料種別:
逐次刊行物 (A)
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)