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文献
J-GLOBAL ID：200902198410247778
整理番号：01A0157907
超伝導量子干渉素子磁力計を利用する光磁気検出法による多結晶シリコンと光起電力素子中の欠陥の非破壊研究
Noninvasive investigation of defects in multicrystalline silicon and photovoltaic devices by photomagnetic detection using superconducting quantum interference device magnetometers.
BEYER J
(Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Berlin, DEU)
,
ZHONG Q
(Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Berlin, DEU)
,
SCHURIG T
(Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Berlin, DEU)
資料名：
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻： 77 号： 19 ページ： 3107-3109 発行年： 2000年11月06日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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