文献
J-GLOBAL ID:200902198999404258
整理番号:94A0328930
X線および中性子の鏡面反射率に及ぼす粗さプロファイルの影響
Influence of the roughness profile on the specular reflectivity of x rays and neutrons.
著者 (1件):
DE BOER D K G
(Philips Research Lab., Eindhoven, NLD)
資料名:
Physical Review. B. Condensed Matter and Materials Physics
(Physical Review. B. Condensed Matter and Materials Physics)
巻:
49
号:
9
ページ:
5817-5820
発行年:
1994年03月01日
JST資料番号:
D0746A
ISSN:
1098-0121
CODEN:
PRBMDO
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)